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合測(cè)實(shí)業(yè)為時(shí)代HS142軋輥硬度計(jì)廠家一級(jí)代理商，HS142軋輥硬度計(jì)肖氏測(cè)量范圍（30～110）HSD，是當(dāng)今*專(zhuān)業(yè)測(cè)量軋輥的肖氏硬度計(jì)。

合測(cè)實(shí)業(yè)為京海JH-100里氏硬度計(jì)廠家一級(jí)代理商，JH-100里氏硬度計(jì)替代老型號(hào)HLM-100，在具備打印功能的同時(shí)，還增加了USB接口，并且可以根據(jù)隨機(jī)配備的軟件與電腦連接做數(shù)據(jù)處理，為廣大使用單位提供了很大方便，產(chǎn)品適用于測(cè)量鋼和鑄鋼、合金工具鋼、不銹鋼、灰鑄鐵、球墨鑄鐵、鑄鋁合金、銅鋅合金（黃銅）、銅錫合金（青銅）、純銅、鍛鋼等測(cè)試。

合測(cè)實(shí)業(yè)為瑞士博勢(shì)EQUOTIP 3里氏硬度計(jì)廠家一級(jí)代理商，EQUOTIP 3里氏硬度計(jì)適用于所有金屬材料,Z適用于工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)為大型、重型及已安裝好工件的測(cè)試,可以用于難進(jìn)入或空間有限的測(cè)試場(chǎng)地，自動(dòng)感應(yīng)及補(bǔ)償沖擊方向，方便用于弧形工件（R10mm）且測(cè)試精準(zhǔn)。

合測(cè)實(shí)業(yè)為SLX-D邵氏硬度計(jì)測(cè)試機(jī)架廠家一級(jí)代理商,SLX-D邵氏硬度計(jì)測(cè)試機(jī)于配置D型邵氏硬度計(jì)。機(jī)架上端配置定荷砝碼，準(zhǔn)確測(cè)量橡膠的硬度。

合測(cè)實(shí)業(yè)為SLX-A邵氏硬度計(jì)測(cè)試機(jī)架廠家一級(jí)代理商/特約經(jīng)銷(xiāo)商,SLX-A型邵氏硬度計(jì)測(cè)試機(jī)架專(zhuān)用于配置A型或AO型邵氏硬度計(jì)及C型微孔材料硬度計(jì)。機(jī)架上端配置專(zhuān)用定荷砝碼，準(zhǔn)確測(cè)量橡膠或微孔材料的硬度。

合測(cè)實(shí)業(yè)為GY-1果實(shí)硬度計(jì)廠家一級(jí)代理商,用以測(cè)量蘋(píng)果.梨的硬度.適用于果樹(shù)科研部門(mén),果品公司,果樹(shù)農(nóng)場(chǎng),大專(zhuān)農(nóng)業(yè)院校等單位,對(duì)培育良種,收獲儲(chǔ)存,出品運(yùn)輸和加工等對(duì)水果的檢測(cè)，體積小,重量輕,直讀式，攜帶方便,特別適用于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定,直接出結(jié)果.

合測(cè)實(shí)業(yè)為GY-4數(shù)顯果實(shí)硬度計(jì)廠家一級(jí)代理商,用以測(cè)量蘋(píng)果、梨、草莓、葡萄等水果的硬度，適用于果樹(shù)科研部門(mén)，果品公司，果樹(shù)農(nóng)場(chǎng)，大專(zhuān)院校等單位，對(duì)培育良種，收獲儲(chǔ)存，出口運(yùn)輸和加工等水果硬度的檢測(cè)，從而判斷果實(shí)的成熟程度，具有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能，數(shù)據(jù)輸出功能，自動(dòng)峰值功能。綠色環(huán)保，10分鐘無(wú)操作自動(dòng)關(guān)機(jī)。

合測(cè)實(shí)業(yè)為華銀LX-A邵氏硬度計(jì)廠家一級(jí)代理商/特約經(jīng)銷(xiāo)商,LX-A邵氏硬度計(jì)又稱(chēng)為邵氏A硬度計(jì)是測(cè)定硫化橡膠和塑料制品硬度的儀器。

合測(cè)實(shí)業(yè)為德國(guó)KK/美國(guó)GE MIC20超聲波里氏硬度計(jì)一級(jí)代理商,MIC20超聲波里氏硬度計(jì)將UCI法（超聲接觸阻抗法）和回彈硬度檢測(cè)法合為一體，UCI法可用于檢測(cè)具有復(fù)雜形狀的質(zhì)地細(xì)密的材料，回彈法用于檢測(cè)大型粗晶粒鍛件和鑄件，UCI法在施加試驗(yàn)負(fù)載后，通過(guò)測(cè)量維氏金剛石在材料后面留下的壓痕尺寸，從而確定材料的硬度。

合測(cè)實(shí)業(yè)為德國(guó)KK/美國(guó)GE MIC10超聲波硬度計(jì)一級(jí)代理商,MIC10超聲波硬度計(jì)是利用UCI（Ultrasonic Contact Impedance-超聲波接觸阻抗）方法能快速、方便地對(duì)維氏硬度凹處進(jìn)行評(píng)價(jià)，無(wú)需使用顯微鏡,多存儲(chǔ)功能，在各方面不受限制，甚至可用在端頭位置，可適用于任何形狀、尺寸的大多數(shù)細(xì)晶粒、材料，特別適合于小公差范圍內(nèi)確定材料特性。